特開平11-15947「画像処理装置」

船山竜士, 竹澤創, 紺矢峰弘, 斗谷充宏

【特許請求の範囲】

【請求項1】
画像中の任意の領域または任意の位置を指定する指定手段と、指定された任意の領域または任意の位置、乃至その周辺の画素情報から、任意の領域または任意の位置、乃至その周辺に存在する物体の画像領域を特定する特定手段と、特定された物体の画像領域から、切り取りすべき画像領域を決定する切取領域決定手段と、決定された画像領域を切り取る画像切取手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項2】
前記切取領域決定手段は、切り取りすべき画像領域の大きさを、予め定められた大きさに調整する手段を備えることを特徴とする請求項1 に記載の画像処理装置。
【請求項3】
画像中の任意の領域または任意の位置を指定する指定手段と、指定された任意の領域または任意の位置、乃至その周辺の色分布を解析する解析手段と、解析結果にもとづいて、画像中に存在する顔画像を特定するための条件を調整する条件調節手段と、調整された条件にもとづいて、指定された任意の領域または任意の位置、乃至その周辺に存在する顔画像領域を特定する顔画像特定手段と、特定された顔画像領域から、切り取りすべき画像領域を決定する切取領域決定手段と、決定された画像領域を切り取る画像切取手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項4】
前記切取領域決定手段は、切り取りすべき画像領域の大きさを、前記指定手段により指定された任意の領域または任意の位置を基準として調整する手段を備えることを特徴とする請求項3 に記載の画像処理装置。
【請求項5】
前記顔画像特定手段は、特定した顔画像領域にノイズ除去、ラベリングなどの処理を加えて顔マスクを作成する手段と、作成された顔マスク内の垂直方向を探索し、当該顔マスクに対応する原画像画素の輝度の垂直方向の微分値の総和を求めてヒストグラムを生成する手段と、生成されたヒストグラムの形状から、顔の中心軸を検出する手段とを備えることを特徴とする請求項3 乃至請求項4 に記載の画像処理装置。
【請求項6】
前記顔画像特定手段は、特定した顔画像領域にノイズ除去、ラベリングなどの処理を加えて顔マスクを作成する手段と、作成された顔マスク内の水平方向を探索し、当該顔マスクに対応する原画像画素の輝度の平均値を求めてヒストグラムを生成する手段と、生成されたヒストグラムの形状から、鼻の垂直位置を検出する手段とを備えることを特徴とする請求項3 乃至請求項4 に記載の画像処理装置。
【請求項7】
前記顔画像特定手段は、特定した顔画像領域にノイズ除去、ラベリングなどの処理を加えて顔マスクを作成する手段と、作成された顔マスク内の水平方向を探索し、当該顔マスクに対応する原画像画素の輝度の平均値を求めてヒストグラムを生成する手段と、生成されたヒストグラムの形状から、目の垂直位置を検出する手段とを備えることを特徴とする請求項3 乃至請求項4 に記載の画像処理装置。
【請求項8】
前記顔画像特定手段は、特定した顔画像領域にノイズ除去、ラベリングなどの処理を加えて顔マスクを作成する手段と、作成された顔マスク内の水平方向を探索し、当該顔マスクに対応する原画像画素の輝度の平均値を求めてヒストグラムを生成する手段と、生成されたヒストグラムの形状から、口の垂直位置を検出する手段とを備えることを特徴とする請求項3 乃至請求項4 に記載の画像処理装置。
【請求項9】
前記顔画像特定手段は、前記ヒストグラムの形状から検出された目の垂直位置と口の垂直位置の間の中央位置を求め、当該中央位置で前記顔マスクの幅を検出する手段を備えることを特徴とする請求項7 及び請求項8 に記載の画像処理装置。
【請求項10】
前記切取領域決定手段は、切り取りすべき画像領域の位置を、前記顔画像領域と、前記顔の中心軸と、前記鼻の垂直位置と、前記目の垂直位置と、前記口の垂直位置と、前記顔マスクの幅とにもとづいて調整する手段を備えることを特徴とする請求項3 及び請求項5 乃至請求項9 に記載の画像処理装置。
【請求項11】
前記切取領域決定手段は、切り取りすべき画像領域の大きさを、前記顔画像領域と、前記顔の中心軸と、前記鼻の垂直位置と、前記目の垂直位置と、前記口の垂直位置と、前記顔マスクの幅とにもとづいて調整する手段を備えることを特徴とする請求項3 及び請求項5 乃至請求項9 に記載の画像処理装置。
【請求項12】
前記切取領域決定手段は、決定された画像領域全体、または決定された画像領域の一部の画像領域の画像の補正を行う画像補正手段を備えることを特徴とする請求項1 乃至11 に記載の画像処理装置。


Ryuji FUNAYAMA <ryuji@funayama.com>
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